随着测试场景变得复杂，超出功率限制的风险也会相应增加 。如今，集成在SoC中的嵌入式可测试性设计（DFT）功能可能是非常复合的，因此功率表征可能会被所有这些组件污染 。为了更好地了解每个角色者在所考虑的测试场景中的贡献，调试设置变得非常重要 。在接下来的段落中，我们将描述如何收集英飞凌Aurix系统在多种条件下运行时的重要功率测量数据 。

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图1 总体环境和工作原则
如图1所示，Aurix FLASH存储器测试涉及许多电路 。高速和背对背的访问是由一个可编程的内置自检（可编程BIST）授予的，它由一个Tricore处理器核心控制 。PBIST功能允许在不同条件下进行验证测试，如内部电压和频率参数 。
在我们的工作中，主要调查了CPU组件行为的影响，因为它在纯PBIST功率特性方面引入了一个额外的电流消耗因素 。为了识别功率峰值并确定其最大振幅，我们评估了几个CPU固件版本 。图2总结了一组测量的构架：
1) 未经优化的CPU固件版本，该版本
a) 不断地轮询PBIST以获取故障信息
b) 包括调试功能，如跟踪特殊用途寄存器的读写操作
c) 实施高水平的嵌套功能，以达到重复使用的目的 。
2) 减少对PBIST的轮询频率
3) 利用在轮询事件之间进入的空闲模式
4) 通过 "简化 "的代码（但不太通用）最小化上下文切换事件 。

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图2 固件级别探索及其利弊
图2说明了优化级别，并已经报告了一些权衡的结果 。随着我们引入优化，功率消耗的峰值往往会减少很多 。这是一个主要目标，但它也带来了一些重要的缺陷 。在每一个优化步骤中，我们都观察到CPU固件的灵活性和可移植性的损失 。同样，闲置空闲能力时 。
为了进行目标测量，我们准备了图3所示的装置 。安装的基础是一个开发板，包括一个用于承载芯片样本的螺丝插座 。这样的板然后连接到几个控制和测量工具 。

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图3 实验装置
一个硬件调试器被连接到电路板上，以便主机启动和控制CPU功能的执行 。
然后，电路板通过两种类型的探头连接到示波器上 。电流探头用于测量测试执行过程中的电流变化：这种探针 "窥探 "了沿测试执行过程中给磁芯供电的电源线 。此外，一个数字探针被用来捕捉数字引脚的值 。这种操作对于确定正确的时间来观察测试流程中的功耗变化非常重要 。在以下图表中，我们报告了与FLASH存储器两个连续扇区的测试有关的测量 。数字探头用于识别轮询间隔，用黄色报告，而用电流探头测量的功耗趋势用蓝色报告 。
图4显示了基线CPU固件的应用 。我们用百分比来做一个公平的比较，在这种情况下，功率峰值振幅和测试时间是100% 。

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图4 CPU应用程序的基线

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图5 减少轮询活动频率

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图6 空闲模式激活

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图7 减少了上下文切换事件
总的来说，我们观察到，有几种方法可以用来减少功率峰值的振幅，这对于安全地规划其他测试与FLASH内存测试程序的并行化至关重要 。以灵活性和可移植性为代价，减少CPU的 "无用 "活动（例如，通过减少代码中对函数的嵌套调用数量来最小化上下文切换）看起来是最有效的方法，它对测试时间没有影响 。

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